吉時利Keithley二極管/晶體管/場效應管I-V特性曲線測試方案
集成電路的組成包含了大量的三端口、雙端口器件,如我們常見的二極管、晶體管、場效應管等,這些半導體分立器件是組成集成電路的基礎。我們常常在測試實驗中用I-V特性曲線來表示微電子器件、工藝及材料特性,I-V曲線的值也決定了這些元器件的基本參數。通常用吉時利數字源表進行這些半導體分立器件測試的過程中,由于源表本身無法將測試數據及I-V曲線圖進行保存,為了提高測試效率及測試數據的準確性記錄且可追溯,吉時利源表軟件的誕生將替代手動繁瑣操作快速保存測試數據及圖像。
分立器件I-V特性測試的主要目的是通過實驗,幫助工程師提取半導體器件的基本I-V特性參數,并在整個工藝流程結束后評估器件的優劣。
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