2019年7月30日，由西安天宇微納軟件有限公司自主開發的高度集成的電子元器件退化實驗項目成功交付。
本次交付的電子元器件退化實驗系統包括電源模塊測試、FPJA/DGP測試、繼電器測試、電容測試等，均一次性上電調試正常運行，所有測試參數均達到客戶要求的技術指標和測試規范。
該電子元器件退化實驗系統由總控單元、測試儀器、環境實驗設備、被測產品四部分組成。
該電子元器件退化實驗系統由環境實驗、實時監測為模擬元器件實際的工作環境，首先會將被測產品（FPFA/DSP芯片、電磁繼電器、電容、電源模塊）放入三種不同的環境下進行自動化環境試驗，以達到元器件正常工作所要求的使用環境條件。
系統提供的測試通道至少為16通道，確保每個模塊能夠進行正常測試。
電源模塊的測試通道數為4路，系統采用多電源多通道的方式完成任意通道或全通道的測試，相比繼電器切換可靠性更高，且通過電源模塊在溫度、振動、負載變化三大類應力的加速老化下能夠實現在恒流、恒壓、恒功率以及恒阻（CC/CV/CP/CR）四種不同測試模式下電壓、電流和功率的測試。
對特定的FPGA/DSP芯片實現溫度、振動、電壓和頻率四大類應力下的加速老化試驗后，結合邏輯分析儀、示波器等儀器對FPGA/DSP芯片進行電氣測試。FPGA/DSP芯片測試輸出通道數為3路，系統可實現對任意IO管腳進行IO高低電平電壓測試、IO電流測試、IO輸出特性圖形化測試以及邏輯功能測試。
電容在溫度、振動、電壓三大類應力下的加速老化后對其進行耐壓測試、電阻測試以及容量的測試。
繼電器主要檢測它在溫度、振動應力下的觸點電阻、繼電器吸合時間、吸合電壓、釋放時間、釋放電壓的測試。
測試完成后用戶可對本次測試數據進行保存，為增強數據的溯源性和易查找性，本系統采用MySQL數據庫，所有的測試數據實時存入數據庫中，用戶可通過軟件界面的查詢功能查看任意時間段的歷史數據，通過對數據的比對，從元器件的選擇和測試等方面進行改進，以降低產品的故障率。
現場部署圖
Namisoft(納米軟件），是一家面向全球客戶的智能測試及測試大數據分析的高科技公司，幫助客戶解決生產及研發中智能測試的需求，專注于儀器自動化測試軟件開發和智能測試大數據分析，實現生產制造企業測試數據采集及智能分析、故障預測與診斷、維護決策與優化等大數據應用服務整體解決方案，幫助企業實現智能化改造。同時納米軟件也為國際知名的儀器公司（Tektronix、Fluke、Agilent、TDK）提供相關測試儀器配套軟件的ODM開發,成為這個國際化公司測試軟件開發的有力合作伙伴。
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